A A+ A++
A A A A

Wydział Mechaniczny

Wydział Mechaniczny

Dane kontaktowe

Sekretariat Wydziału
tel. 71 320 27 15
e-mail: wydz.mech@pwr.edu.pl
bud. B-4, pok. 1.15

Adres korespondencyjny
Wydział Mechaniczny
Wybrzeże St. Wyspiańskiego 27
50-370 Wrocław

Lokalizacja
ul. I. Łukasiewicza 5
50-371 Wrocław
bud. B-4

b4_szczyt_kwadrat.jpg

hr

mgr inż. Mariusz Mrzygłód

Email: mariusz.mrzyglod@pwr.edu.pl
Jednostka: Wydział Mechaniczny » Katedra Zaawansowanych Technik Wytwarzania

ul. I. Łukasiewicza 5, Wrocław
hala B-4, pok 1a33  
tel. 71 320 28 22

Konsultacje


Zainteresowania naukowe

  • Systemy wizyjne
  • Przetwarzanie obrazów
  • Systemy sterowania

Publikacje w bazie DONA


Wybrane publikacje
1
Artykuł
2026
Kacper Marciniak Paweł Majewski Piotr T Lampa Mariusz Mrzygłód Jacek Reiner
Intelligent tool management with an enhanced six-channel you only look once model and structural similarity index measure analysis. Advances in Science and Technology Research Journal. 2026, vol. 20, nr 1, s. 462-476. ISSN: 2080-4075; 2299-8624
Zasoby:DOIURLSFXImpact FactorLista FiladelfijskaLista MNiSWOpen Access
2
Artykuł
2024
Michał Kozłowski, Piotr M Szczypiński, Jacek Reiner Piotr T Lampa Mariusz Mrzygłód Karolina Szturo, Piotr Zapotoczny,
Identifying defects and varieties of Malting Barley Kernels. Scientific Reports. 2024, vol. 14, art. 22143, s. 1-14. ISSN: 2045-2322
Zasoby:DOIURLSFXImpact FactorLista FiladelfijskaLista MNiSWOpen Access
3
Artykuł
2024
Paweł Majewski Mariusz Mrzygłód Piotr T Lampa Robert Burduk Jacek Reiner
Monitoring the growth of insect larvae using a regression convolutional neural network and knowledge transfer. Engineering Applications of Artificial Intelligence. 2024, vol. 127, pt B, art. 107358, s. 1-17. ISSN: 0952-1976; 1873-6769
Zasoby:DOIURLSFXImpact FactorLista FiladelfijskaLista MNiSWOpen Access
4
Wzór użytkowy
2023
Jacek Reiner Mariusz Mrzygłód Paweł Wróblewski Piotr T Lampa
Jacek Reiner, Mariusz Mrzygłód, Paweł Wróblewski, Piotr T. Lampa
Wzór użytkowy. Polska, nr PL 73244 Y1, opubl. 27.12.2023. Zgłosz. nr W 129985 z 14.04.2021. Głowica pomiarowa skanująco-obrazująca = Scanning and imaging measuring head / Politechnika Wrocławska, Wrocław, PL ; Jacek Reiner [i in.]. 6 s.
Zasoby:URL
5
Artykuł
2021
Przemysław Dolata Paweł Wróblewski Mariusz Mrzygłód Jacek Reiner
Instance segmentation of root crops and simulation-based learning to estimate their physical dimensions for on-line machine vision yield monitoring. Computers and Electronics in Agriculture. 2021, vol. 190, art. 106451, s. 1-11. ISSN: 0168-1699; 1872-7107
Zasoby:DOISFXImpact FactorLista FiladelfijskaLista MNiSW
6
Artykuł
2020
Piotr Zapotoczny, Jacek Reiner Mariusz Mrzygłód Piotr T Lampa
The use of polarized light and image analysis in evaluations of the severity of fungal infection in barley grain. Computers and Electronics in Agriculture. 2020, vol. 169, s. 1-8. ISSN: 0168-1699; 1872-7107
Zasoby:DOIURLSFXImpact FactorLista FiladelfijskaLista MNiSW
7
Rozdział w monografii
2019
Rafał Cieśla, Mariusz Mrzygłód Mirosław Owoc, Roman Ptak Jacek Reiner Grzegorz Rusek,
Mikroskopia polimorficzna jako najnowsza technologia badania dokumentów = Polymporphic microscopy as the newest technology in document examinations. W: Kryminalistyka a nowoczesne technologie / red. Violetta Kwiatkowska-Wójcikiewicz, Dariusz Wilk, Józef Wójcikiewicz. Kraków : Wydawnictwo Uniwersytetu Jagielońskiego, 2019. s. 47-59. ISBN: 978-83-233-4700-2
8
Patent
2018
Jacek Reiner Mariusz Mrzygłód Piotr T Lampa
Jacek Reiner, Mariusz Mrzygłód, Piotr T. Lampa
Patent. Polska, nr PL 229594, opubl. 31.08.2018. Zgłosz. nr 415797 z 15.01.2016. Sposób akwizycji obrazów ziarna na potrzeby oceny jego jednorodności i parametrów technicznych oraz układ do realizacji tego sposobu = Method for acquisition of a grain image for the purpose of assessment of its uniformity and technical parameters and the system for the execution of this method / Politechnika Wrocławska, Wrocław, PL ; Jacek Reiner, Mariusz Mrzygłód, Piotr Lampa. 8 s.
Zasoby:URL
9
Patent
2018
Adrian S Zakrzewski Jacek Reiner Mariusz Mrzygłód Piotr G Koruba Piotr Jurewicz
Adrian S. Zakrzewski, Jacek Reiner, Mariusz Mrzygłód, Piotr G. Koruba, Piotr Jurewicz
Patent. Polska, nr PL 229959, opubl. 28.09.2018. Zgłosz. nr 421970 z 21.06.2017. Aberracyjny czujnik optyczny odległości w procesach technologicznych oraz sposób pomiaru odległości w procesach technologicznych = Aberrated optical distance sensor in technological processes and method for measuring distances in technological processes / Politechnika Wrocławska, Wrocław, PL ; Adrian Zakrzewski [i in.]. 6 s.
Zasoby:URL
10
Patent
2018
Jacek Reiner Mariusz Mrzygłód Dariusz Tryba Marcin Trzyna, Wojciech Cieszyński Henryk Jaremek, Janusz Zmywaczyk,
Jacek Reiner, Mariusz Mrzygłód, Dariusz Tryba, Marcin Trzyna*, Wojciech Cieszyński, Henryk Jaremek*, Janusz Zmywaczyk*
Patent. Polska, nr PL 230748, opubl. 31.12.2018. Zgłosz. nr 409449 z 10.09.2014. Urządzenie do kontroli kalibracji termochromowych matryc ciekłokrystalicznych, sposób kontroli kalibracji termochromowych matryc ciekłokrystalicznych oraz zastosowanie urządzenia do kontroli kalibracji termochromowych matryc ciekłokrystalicznych = Device for the control of calibration of thermochromic liquid crystal matrices, method for the control of calibration of thermochromic liquid crystal matrices and application of the device for the control of calibration of thermochromic liquid crystal matrices / BRASTER Spółka Akcyjna, Szeligi, PL ; Politechnia Wrocławska, Wrocław, PL ; Jacek Reiner [i in.]. 10 s.
2014Z Toż: A device for controlling the calibration of thermochromic liquid crystal matrices, a method of controlling the calibration of thermochromic liquid crystal matrices and the use of said device to control the calibration of thermochromic liquid crystal matrices. Application number PCT/IB2014/064445. Date of receipt: 11 September 2014. Receiving office: International Bureau of the World Intellectual Property Organization.
Zasoby:URL

Wszystkie publikacje pracownika

Politechnika Wrocławska ©